Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
On the electrical origin of flicker noise in vacuum devices
Año:2009
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
We have recently shown that thermal noise in the space-charge regions of solid-state devices can account for most of their excess noise, whose 1/f spectrum is produced by the dc bias that was used to convert resistance noise into a voltage noise to be measured. This spectrum reflects the modulation of an energy barrier that confines carriers along the channel of such devices ¿a feature that was also found for electrons around cathodes of vacuum tubes. Using this novel theory, we can predict a flicker noise in vacuum tubes¿a noise whose origin has eluded scientists since its early report by Johnson in 1925.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
ISSN
0018-9456
Factor de impacto JCR
0,978
Información de impacto
Volumen
58
DOI
Número de revista
10
Desde la página
3592
Hasta la página
3601
Mes
ENERO
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Jose Ignacio Izpura Torres (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2021 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)