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Abstract
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| Los semiconductores III-V, se emplean en una amplia gama de aplicaciones optoelectrónicas, como alternativa a dispositivos de silicio, o para mejorar u ofrecer características que el silicio no proporciona, LEDs (Light Emitting Diode) de alta luminosidad, diodos láser y células solares de alta concentración. La experiencia y bases de datos de fiabilidad de estos dispositivos es escasa comparada con la de los dispositivos de silicio. Debido a que los fallos en estos dispositivos de semiconductores III-V se producen por degradación de sus características, la evaluación de su fiabilidad requiere de sistemas de instrumentación que midan la degradación en función del tiempo. En el caso de las células solares es aún más importante, porque su rentabilidad económica depende de la pérdida de potencia durante la vida del sistema. En este artículo exponemos nuestra experiencia en la evaluación de la fiabilidad de células solares de concentración, donde los ensayos publicados en esta área son escasos. | |
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International
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Si |
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Congress
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I Jornadas Iberoamericanas de Asset Management y XI Congreso de Confiabilidad de la Asociación Española para la Calidad |
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960 |
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Place
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Valencia |
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Reviewers
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Si |
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ISBN/ISSN
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978-84-935668-6-9 |
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Start Date
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03/06/2009 |
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End Date
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04/06/2009 |
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Proceedings |