Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests
Año:2009
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
High efficiency LEDs are replacing incandescent bulbs in many applications particularly those requiring durability and low power consumption. In some of these applications, as automotive and traffic signals, LEDs work in outdoor environment and in some cases in extreme temperature and humidity conditions. Main failure mechanisms have been identified for the different stress conditions (temperature/humidity accelerated tests). MTTF of 127,000 h have been evaluated for real working conditions by means of applying Arrhenius and Peck model values obtained in this paper.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN
0026-2714
Factor de impacto JCR
1,29
Información de impacto
Volumen
49
DOI
Número de revista
0
Desde la página
1240
Hasta la página
1243
Mes
SEPTIEMBRE
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Eduardo Nogueira Diaz (UPM)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: Neftali Nuñez Mendoza (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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