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FLAW DETECTION ON HIGHLY SCATTERING MATERIALS USIN MULTIRESOLUTION ANALYSIS WITH TIME-FREQUENCY THERHOLDING
FLAW DETECTION ON HIGHLY SCATTERING MATERIALS USIN MULTIRESOLUTION ANALYSIS WITH TIME-FREQUENCY THERHOLDING
Año:2007
Áreas de investigación
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Procesado y análisis de la señal
Datos
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Descripción
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| FLAW DETECTION ON HIGHLY SCATTERING MATERIALS USING MULTIRESOLUTION ANALYSIS WITH TIME-FREQUENCY THRESHOLDING | |
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Internacional
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No |
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JCR del ISI
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No |
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Título de la revista
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SPECIAL ISSUE OF THE JOURNAL REVISTA DE ACÚSTICA |
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ISSN
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84-87985-12-2 |
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Factor de impacto JCR
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0 |
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Información de impacto
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Volumen
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38 |
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DOI
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Número de revista
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0 |
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Desde la página
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3 |
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Mes
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SIN MES |
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Ranking
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Participantes
- Participante: J.G. HERNÁNDEZ
- Participante: J.J. ANAYA
- Autor: Miguel Angel Garcia Izquierdo (UPM)
- Participante: M. MOLERO
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Departamento: Señales, Sistemas y Radiocomunicaciones
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