Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Study of the refractive index change in a-Si:H thin films patterned by 532 nm laser radiation for photovoltaic applications
Año:2010
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
THIN SOLID FILMS
ISSN
0040-6090
Factor de impacto JCR
1,909
Información de impacto
Volumen
518
DOI
10.1016/j.tsf.2010.04.016
Número de revista
18
Desde la página
5331
Hasta la página
5339
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: c. molpeceres (UPM)
  • Autor: m. holgado (UPM)
  • Autor: gandia, j. .
  • Autor: nos, o. .
  • Autor: j. l. ocana (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
  • Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
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