Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Ge nanocrystals embedded in a SiO2 matrix obtained from SiGeO films deposited by LPCVD
Año:2010
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
ISSN
0268-1242
Factor de impacto JCR
1,323
Información de impacto
Volumen
25
DOI
10.1088/0268-1242/25/4/045032
Número de revista
4
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8
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: a. rodriguez (UPM)
  • Autor: t. rodriguez (UPM)
  • Autor: j. sangrador (UPM)
  • Autor: b. morana
  • Autor: a. kling
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
  • Grupo de Investigación: Grupo de Conectividad
  • Departamento: Tecnología Electrónica
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