Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Crystallization of Amorphous Si0.6Ge0.4 Nanoparticles Embedded in SiO2: Crystallinity Versus Compositional Stability
Año:2010
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS
ISSN
0361-5235
Factor de impacto JCR
1,39
Información de impacto
Volumen
39
DOI
10.1007/s11664-010-1254-9
Número de revista
8
Desde la página
1194
Hasta la página
1202
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: a. rodriguez (UPM)
  • Autor: t. rodriguez (UPM)
  • Autor: a. c. prieto
  • Autor: j. jimenez
  • Autor: a. kling
  • Autor: j. sangrador (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
  • Grupo de Investigación: Grupo de Conectividad
  • Departamento: Tecnología Electrónica
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