Artículos en revistas:
Pérdidas eléctricas asociadas a procesos de interconexión con láser en dispositivos de lámina delgada
Pérdidas eléctricas asociadas a procesos de interconexión con láser en dispositivos de lámina delgada
Año:2010
Áreas de investigación
-
Ingenierías
Datos
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Descripción
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| Pérdidas eléctricas asociadas a procesos de interconexión con láser en dispositivos de lámina delgada | |
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Internacional
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No |
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JCR del ISI
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No |
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Título de la revista
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Anales de Ingeniería Mecánica |
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ISSN
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0212-5072 |
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Factor de impacto JCR
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0 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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Desde la página
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170 |
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Hasta la página
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180 |
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Mes
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ENERO |
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Ranking
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Participantes
- Autor: Juan José García-Ballesteros . (UPM)
- Autor: Sara Lauzurica Santiago (UPM)
- Participante: J. Gandía (Departamento de Energías Renovables, Energía Solar Fotovoltaica, CIEMAT, Avda. Complutense, 22. 28040 Madrid. SPAIN)
- Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez (UPM)
- Participante: I. Torres (Departamento de Energías Renovables, Energía Solar Fotovoltaica, CIEMAT, Avda. Complutense, 22. 28040 Madrid. SPAIN)
- Autor: Jose Luis Ocaña Moreno (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
- Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial
- Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
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