Memorias de investigación
Communications at congresses:
Electrical losses induced by laser scribing during monolithic interconnection of devices based on a Si:H
Year:2010

Research Areas
  • Engineering

Information
Abstract
Electrical losses induced by laser scribing during monolithic interconnection of devices based on a Si:H
International
Si
Congress
LANE 2010, Laser Assisted Net Shape Engineering
960
Place
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
1875-3892
10.1016/j.phpro.2010.08.149
Start Date
21/10/2010
End Date
24/10/2010
From page
293
To page
300
Proceedings of the LANE 2010
Participants
  • Autor: Juan José García-Ballesteros . UPM
  • Autor: Sara Lauzurica Santiago UPM
  • Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez UPM
  • Participante: J.J. Gandía Departamento de Química, Instituto de Reconocimiento Molecular y Desarrollo Tecnológico, Centro Mixto Universitat Politècnica de València
  • Participante: D. Canteli Departamento de Química, Instituto de Reconocimiento Molecular y Desarrollo Tecnológico, Centro Mixto Universitat Politècnica de València
  • Participante: I. Torres Departamento de Química, Instituto de Reconocimiento Molecular y Desarrollo Tecnológico, Centro Mixto Universitat Politècnica de València

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser