Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
J.G. RODRÍGUEZ, G. FUENTES, O. WILLIAMS, F. CALLE "The Influence of the Substrate Roughness on the c-Axis Orientation of AlN/Diamond Thin Films" Proc. 10th Workshop on Expert Materials Characterization and Technologies, EXMATEC 2010. Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010
Año:2010
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM
Internacional
Si
Nombre congreso
10th Workshop on Expert Materials Characterization and Technologies, EXMATEC 2010. Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
19/05/2010
Fecha fin congreso
21/05/2010
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Título de las actas
Proc. 10th Workshop on Expert Materials Characterization and Technologies, EXMATEC 2010. Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Juan Rodriguez Madrid (UPM)
  • Autor: O. WILLIAMS
  • Autor: Gonzalo Fuentes Iriarte (UPM)
  • Autor: Fernando Calle Gomez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
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