Ponencias en congresos:
J.G. RODRÍGUEZ, G. FUENTES, O. WILLIAMS, F. CALLE "The Influence of the Substrate Roughness on the c-Axis Orientation of AlN/Diamond Thin Films" Proc. 10th Workshop on Expert Materials Characterization and Technologies, EXMATEC 2010. Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010
J.G. RODRÍGUEZ, G. FUENTES, O. WILLIAMS, F. CALLE "The Influence of the Substrate Roughness on the c-Axis Orientation of AlN/Diamond Thin Films" Proc. 10th Workshop on Expert Materials Characterization and Technologies, EXMATEC 2010. Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010
Año:2010
Áreas de investigación
-
Ingenierías, -
Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
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Descripción
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| Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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10th Workshop on Expert Materials Characterization and Technologies, EXMATEC 2010. Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010 |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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19/05/2010 |
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Fecha fin congreso
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21/05/2010 |
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Hasta la página
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Título de las actas
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Proc. 10th Workshop on Expert Materials Characterization and Technologies, EXMATEC 2010. Seeheim-Darmstadt (Germany) 2010 |
Participantes
- Autor: Juan Rodriguez Madrid (UPM)
- Autor: O. WILLIAMS
- Autor: Gonzalo Fuentes Iriarte (UPM)
- Autor: Fernando Calle Gomez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Departamento: Ingeniería Electrónica
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
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