Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Exact Outage Probability Caused by Multiple Nakagami Interferers with Arbitrary Parameters
Año:2010
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
ESTUDIO PROPAGACION
Internacional
Si
Nombre congreso
Vehicular Technology Conference Fall (VTC 2010-Fall), 2010 IEEE 72nd
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
CANADA
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-4244-3573-9
DOI
Fecha inicio congreso
06/09/2010
Fecha fin congreso
09/09/2010
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Título de las actas
Vehicular Technology Conference Fall (VTC 2010-Fall), 2010 IEEE 72nd
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Cesar Briso Rodriguez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Radiocomunicación (GRC)
  • Departamento: Ingeniería Audiovisual y Comunicaciones
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