Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Análisis de fiabilidad de componentes electrónicos basados en los modelos de degradación
Año:2007
Áreas de investigación
  • Circuitos electrónicos,
  • Dispositivos electrónicos
Datos
Descripción
FALTA
Internacional
No
Nombre congreso
IX Congreso de Confiabilidad
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
San Sebastián (España)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-84-690-9461-7
DOI
Fecha inicio congreso
28/11/2007
Fecha fin congreso
29/11/2007
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Título de las actas
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Participante: Eduardo Nogueira (UPM)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Participante: David Rodríguez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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