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Descripción
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| FLAW DETECTION ON HIGHLY SCATTERING MATERIALS USING MULTIRESOLUTION ANALYSIS WITH TIME-FRECUENCY THERESHOLDING | |
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Internacional
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No |
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Nombre congreso
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ICA 2007 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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MADRID (ESPAÑA) |
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Revisores
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No |
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ISBN o ISSN
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84-87985-12-2 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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02/09/2007 |
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Fecha fin congreso
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07/09/2007 |
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Desde la página
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Hasta la página
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Título de las actas
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