Descripción
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FLAW DETECTION ON HIGHLY SCATTERING MATERIALS USING MULTIRESOLUTION ANALYSIS WITH TIME-FRECUENCY THERESHOLDING | |
Internacional
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No |
Nombre congreso
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ICA 2007 |
Tipo de participación
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960 |
Lugar del congreso
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MADRID (ESPAÑA) |
Revisores
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No |
ISBN o ISSN
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84-87985-12-2 |
DOI
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Fecha inicio congreso
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02/09/2007 |
Fecha fin congreso
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07/09/2007 |
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Título de las actas
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