Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
FLAW DETECTION ON HIGHLY SCATTERING MATERIALS USING MULTIRESOLUTION ANALYSIS WITH TIME-FRECUENCY THRESHOLDING
Año:2007
Áreas de investigación
  • Procesado y análisis de la señal
Datos
Descripción
FLAW DETECTION ON HIGHLY SCATTERING MATERIALS USING MULTIRESOLUTION ANALYSIS WITH TIME-FRECUENCY THERESHOLDING
Internacional
No
Nombre congreso
ICA 2007
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
MADRID (ESPAÑA)
Revisores
No
ISBN o ISSN
84-87985-12-2
DOI
Fecha inicio congreso
02/09/2007
Fecha fin congreso
07/09/2007
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Título de las actas
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Participante: M.G. HERNÁNDEZ
  • Autor: Miguel Angel Garcia Izquierdo (UPM)
  • Participante: J.J. ANAYA
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Señales, Sistemas y Radiocomunicaciones
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