Descripción
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Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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SOLID-STATE ELECTRONICS |
ISSN
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0038-1101 |
Factor de impacto JCR
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1,438 |
Información de impacto
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Volumen
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61 |
DOI
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10.1016/j.sse.2011.02.004 |
Número de revista
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1 |
Desde la página
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46 |
Hasta la página
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52 |
Mes
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SIN MES |
Ranking
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54/116 PHYSICS, APPLIED (SCI); 32/67 PHYSICS, CONDENSED MATTER (SCI); 79/247 ENGINEERING, ELECTRICAL AND ELECTRONIC (SCI) |