Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy investigations of InAlN/GaN Bragg reflectors grown by plasma-assisted Molecular Beam Epitaxy
Año:2011

Áreas de investigación
  • Industria electrónica

Datos
Descripción
Relacionado con Línea de Investigación del Grupo GDS-ISOM
Internacional
Si
Nombre congreso
Spanish Conference on Electron Devices 2011
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Palma de Mallorca, Spain
Revisores
Si
ISBN o ISSN
00-0000-000-0
DOI
000000000000
Fecha inicio congreso
09/02/2011
Fecha fin congreso
11/02/2011
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Título de las actas
Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy investigations of InAlN/GaN Bragg reflectors grown by plasma-assisted Molecular Beam Epitaxy

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica