Ponencias en congresos:
Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy investigations of InAlN/GaN Bragg reflectors grown by plasma-assisted Molecular Beam Epitaxy
Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy investigations of InAlN/GaN Bragg reflectors grown by plasma-assisted Molecular Beam Epitaxy
Año:2011
Áreas de investigación
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Industria electrónica
Datos
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Descripción
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| Relacionado con Línea de Investigación del Grupo GDS-ISOM | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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Spanish Conference on Electron Devices 2011 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Palma de Mallorca, Spain |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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00-0000-000-0 |
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DOI
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000000000000 |
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Fecha inicio congreso
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09/02/2011 |
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Fecha fin congreso
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11/02/2011 |
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Título de las actas
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Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy investigations of InAlN/GaN Bragg reflectors grown by plasma-assisted Molecular Beam Epitaxy |
Participantes
- Autor: D. Hosseini
- Autor: S. Estrade
- Autor: F. Peiro
- Autor: Zarko Gacevic (UPM)
- Autor: S. Fernandez-Garrido
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
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- Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica
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