Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
A Fluctuation-Dissipation Model for Electrical Noise
Año:2011
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
This paper shows that today?s modelling of electrical noise as coming from noisy resistances is a non sense one contradicting their nature as systems bearing an electrical noise. We present a new model for electrical noise that including Johnson and Nyquist work also agrees with the Quantum Mechanical description of noisy systems done by Callen and Welton, where electrical energy fluctuates and is dissipated with time. By the two currents the Admittance function links in frequency domain with their common voltage, this new model shows the connection Cause-Effect that exists between Fluctuation and Dissipation of energy in time domain. In spite of its radical departure from today?s belief on electrical noise in resistors, this Complex model for electrical noise is obtained from Nyquist result by basic concepts of Circuit Theory and Thermo- dynamics that also apply to capacitors and inductors.
Internacional
Si
JCR del ISI
No
Título de la revista
Scientific Research Publishing, Inc. USA. Circuits and Systems
ISSN
2153-1285
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
3
DOI
10.4236/cs.2011.23017
Número de revista
Desde la página
112
Hasta la página
120
Mes
JULIO
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Jose Ignacio Izpura Torres (UPM)
  • Autor: Javier Malo Gomez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Sistemas Electrónicos y de Control
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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