Ponencias en congresos:
Evidence of charge carrier number fluctuations in InN thin films?
Evidence of charge carrier number fluctuations in InN thin films?
Año:2011
Áreas de investigación
-
Ingenierías, -
Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
-
Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
|
Descripción
|
|
|---|---|
|
Internacional
|
Si |
|
Nombre congreso
|
21st International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF |
|
Tipo de participación
|
960 |
|
Lugar del congreso
|
Toronto, Canadá |
|
Revisores
|
Si |
|
ISBN o ISSN
|
|
|
DOI
|
|
|
Fecha inicio congreso
|
12/06/2011 |
|
Fecha fin congreso
|
16/06/2011 |
|
Desde la página
|
|
|
Hasta la página
|
|
|
Título de las actas
|
|
Participantes
- Autor: Geeti Rani Mutta (GREYC Caen, Francia)
- Autor: Bruno Guillet (GREYC, Caen, Francia)
- Autor: Laurence Mechin (GREYC, Caen, Francia)
- Autor: Arantxa Vilalta-Clemente (GREYC, Caen, Francia)
- Autor: Javier Grandal Quintana (UPM)
- Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
- Autor: Sara Martin Horcajo (UPM)
- Autor: Fernando Calle Gomez (UPM)
- Autor: Pierre Ruterana (CIMAP)
- Autor: Jean-Marc Routoure (GREYC, Caen, Francia)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2023 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)