Observatorio de I+D+i UPM
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INVESTIGADORES
ESTRUCTURAS DE I+D+I
ACTIVIDAD INVESTIGADORA
INNOVACIÓN
Investigador
Hernan Aparicio Cerqueira
Categoría Investigador
BECARIO PROGRAMAS RELACIONES INTERNACIONALES
Escuela UPM
E.T.S. DE INGENIEROS DE TELECOMUNICACION
Departamento:
INGENIERIA ELECTRONICA (ANTIGUO)
Area Conocimiento
SIN AREA DE CONOCIMIENTO
Grupo de Investigación:
Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
Datos de Memorias relacionados
Proyectos de I+D+i y generación de recursos
7 Proyectos de I+D+i
1: (2014)
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
2: (2016)
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
3: (2016)
VARIABILIDAD EN TECNOLOGIAS NANOMETRICAS: TOLERANCIA, FIABILIDAD Y APROVECHAMIENTO (TOLERA-2)
4: (2017)
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
5: (2017)
VARIABILIDAD EN TECNOLOGIAS NANOMETRICAS: TOLERANCIA, FIABILIDAD Y APROVECHAMIENTO (TOLERA-2)
6: (2018)
VARIABILIDAD EN TECNOLOGIAS NANOMETRICAS: TOLERANCIA, FIABILIDAD Y APROVECHAMIENTO (TOLERA-2)
7: (2019)
VARIABILIDAD EN TECNOLOGIAS NANOMETRICAS: TOLERANCIA, FIABILIDAD Y APROVECHAMIENTO (TOLERA-2)
Formación de Investigadores y Movilidad
1 Estancias y sabáticos recogidos en programas oficiales
1: (2017)
Universidad de Bath, Reino Unido
Difusión de Resultados de Investigación
9 Artículos en revistas
1: (2015)
2.64 pJ Reference-Free Power Supply Monitor with a Wide Temperature Range
2: (2016)
Calibration-free 1052 mu m(2) Power Supply Monitor
3: (2016)
Characterization of Analog Modules: Reliability Analyses of Radiation, Temperature and Variations Effects
4: (2016)
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges.
5: (2016)
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges.
6: (2016)
Reliable Design Methodology: The Combined Effect of Radiation, Variability and Temperature
7: (2016)
Taxonomy of Power Supply Monitors and Integration Challenges
8: (2017)
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges
9: (2018)
A 40nm Critical Path Monitor for the Detection of Setup and Hold Time Violations
4 Ponencia en Congresos
1: (2016)
Calibration-free 1052 µm2 power supply monitor
2: (2016)
Characterization of analog modules: Reliability analyses of radiation, temperature and variations effects
3: (2016)
Reliable Design Methodology: The Combined Effect of Radiation, Variability and Temperature
4: (2016)
Taxonomy of Power Supply Monitors and Integration Challenges
• TOMA DE DATOS DE MEMORIAS Y CV
• UPM.ES
S2i 2023 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)
