{"id":8347,"date":"2021-11-25T14:03:48","date_gmt":"2021-11-25T13:03:48","guid":{"rendered":"https:\/\/www.upm.es\/recursosidi\/offers-resources\/sin categor\u00eda\/aparato-para-la-medida-de-temperatura-y-corriente-de-fugas-en-un-chip\/"},"modified":"2022-08-10T02:01:00","modified_gmt":"2022-08-10T00:01:00","slug":"aparato-para-la-medida-de-temperatura-y-corriente-de-fugas-en-un-chip","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/www.upm.es\/recursosidi\/offers-resources\/patentes\/aparato-para-la-medida-de-temperatura-y-corriente-de-fugas-en-un-chip\/","title":{"rendered":"Aparato para la medida de temperatura y corriente de fugas en un chip"},"content":{"rendered":"
Descripci\u00f3n de la patente <\/h5>\n

Aparato para la medida de temperatura y corriente de fugas en un chip que proporciona una salida que var\u00eda linealmente con la temperatura. El aparato comprende un inversor de fugas y un m\u00f3dulo electr\u00f3nico que digitaliza y linealiza la salida no lineal del inversor de fugas. Al proporcional una respuesta lineal se reducen las necesidades de almacenamiento e interconexi\u00f3n de los datos, adem\u00e1s se facilita la representaci\u00f3n num\u00e9rica de los mismos. El aparato se puede usar para medir variaciones de temperatura dentro de un chip y tambi\u00e9n para medir variaciones de la corriente de fugas, lo que a su vez conlleva medir variaciones de potencia est\u00e1tica dentro de un chip.<\/p>\n

Situaci\u00f3n <\/h5>\n

Concedida<\/p>\n

N\u00famero de solicitud<\/h5>\n

P200702109<\/p>\n

N\u00famero de publicaci\u00f3n<\/h5>\n

ES2291143<\/p>\n

Fecha de presentaci\u00f3n <\/h5>\n

27\/07\/2007<\/p>\n

Fecha de concesi\u00f3n <\/h5>\n

30\/06\/2008<\/p>\n

Descargar ficha<\/span><\/a><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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  • M. LUISA LOPEZ VALLEJO
    m.lopez.vallejo@upm.es<\/strong><\/blockquote><\/li>
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