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Descripción
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| Se analiza la influencia de las pérdidas del embudo en el desplazamiento en longitud de onda inducido por temperatura en diodos láser de punto cuántico en forma de embudo con emisión a 920 nm. Se presenta una comparación entre las pérdidas del embudo medidas experimentalmente y las obtenidas mediante simulaciones numéricas con un modelo auto consistente. | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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APPL PHYS LETT |
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ISSN
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0003-6951 |
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Factor de impacto JCR
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3,596 |
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Información de impacto
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Volumen
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91 |
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DOI
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Número de revista
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0 |
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Desde la página
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Hasta la página
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Mes
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AGOSTO |
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Ranking
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