Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Communications at congresses:
Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers (POSTER)
Year:2011
Research Areas
  • Engineering
Information
Abstract
We report on the sensitivity of the superconducting critical temperature (TC) to layer thickness, as well as on TC reproducibility in Mo/Au bilayers. Resistivity measurements on samples with a fixed Au thickness (dAu) and Mo thickness (dMo) ranging from 50 to 250 nm, and with a fixed dMo and different dAu thickness are shown. Experimental data are discussed in the framework of Martinis model, whose application to samples with dAu above their coherence length is analysed in detail. Results show a good coupling between normal and superconducting layers and excellent TC reproducibility, allowing to accurately correlate Mo layer thickness and bilayer TC.
International
Si
Congress
EUCAS-ISEC-ICMC 2011
960
Place
The Hague, Holanda
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
0000-0000
Start Date
18/09/2011
End Date
23/09/2011
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Proceedings of the Workshop
Participants
  • Autor: M. Parra-Borderías (1Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón)
  • Autor: I. Fernández-Martínez (Instituto de Microelectrónica de Madrid (CSIC).)
  • Autor: L. Fábrega (4Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
  • Autor: A. Camón (Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón)
  • Autor: O. Gil (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
  • Autor: J.L. costa-Krämer (Instituto de Microelectrónica de Madrid (CSIC))
  • Autor: Raquel Gonzalez Arrabal (UPM)
  • Autor: J. Sesé (Instituto de Nanociencia de Aragón)
  • Autor: F. Briones (Instituto de Microelectrónica de Madrid)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Fusión Nuclear Inercial y Tecnología de fusión
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Fusión Nuclear
  • Departamento: Ingeniería Nuclear
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