Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Low-thickness high-quality aluminum nitride films for super high frequency solidly mounted resonators
Year:2012
Research Areas
Information
Abstract
International
Si
JCR
Si
Title
THIN SOLID FILMS
ISBN
0040-6090
Impact factor JCR
1,909
Impact info
Volume
520
10.1016/j.tsf.2011.11.007
Journal number
7
From page
3060
To page
3063
Month
Ranking
3/18 MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS (SCI); 21/67 PHYSICS, CONDENSED MATTER (SCI); 36/116 PHYSICS, APPLIED (SCI); 61/219 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY (SCI)
Participants
  • Autor: e. iborra (UPM)
  • Autor: m. clement (UPM)
  • Autor: j. capilla (UPM)
  • Autor: j. olivares (UPM)
  • Autor: v. felmetsger
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Tecnología Electrónica
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