Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Insight into the Compositional and Structural Nano Features of AlN/GaN DBRs by EELS-HAADF
Year:2013
Research Areas
  • Engineering,
  • Electronic technology and of the communications
Information
Abstract
Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php
International
Si
JCR
Si
Title
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
ISBN
1431-9276
Impact factor JCR
3,007
Impact info
Volume
19
10.1017/S1431927613000512
Journal number
3
From page
698
To page
705
Month
SIN MES
Ranking
0
Participants
  • Autor: A. Eljarrat
  • Autor: L. López-Conesa
  • Autor: C. Magen
  • Autor: Zarko Gacevic (UPM)
  • Autor: S. Fernández
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: S. Estradé
  • Autor: J. Peiró
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2019 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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