Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Electron tomography of (In,Ga)N insertions in GaN nanocolumns grown on semi-polar (11(2)over-bar2) GaN templates
Year:2015
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
APL MATERIALS
ISBN
2166-532X
Impact factor JCR
0
Impact info
Volume
3
10.1063/1.4914102
Journal number
3
From page
0
To page
5
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: s. albert (UPM)
  • Autor: m. niehle
  • Autor: a. bengoechea-encabo (UPM)
  • Autor: e. calleja (UPM)
  • Autor: a. trampert
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
S2i 2019 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)