Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Year:2015
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
PROCEEDINGS OF THE 2015 IEEE/ACM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NANOSCALE ARCHITECTURES (NANOARCH 15)
ISBN
2327-8218
Impact factor JCR
0
Impact info
Volume
Journal number
From page
112
To page
117
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: pablo royer (UPM)
  • Autor: fernando garcia-redondo (UPM)
  • Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
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