Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
PROCEEDINGS OF THE 2015 IEEE/ACM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NANOSCALE ARCHITECTURES (NANOARCH 15)
ISSN
2327-8218
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
DOI
Número de revista
Desde la página
112
Hasta la página
117
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: pablo royer (UPM)
  • Autor: fernando garcia-redondo (UPM)
  • Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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