Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Quantitative parameters for the examination of InGaN QW multilayers by low-loss EELS
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS
ISSN
1463-9076
Factor de impacto JCR
4,493
Información de impacto
Volumen
18
DOI
10.1039/c6cp04493j
Número de revista
33
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Hasta la página
23276
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: noemi garcia-lepetit UPM
  • Autor: alberto eljarrat
  • Autor: zarko gacevic UPM
  • Autor: lluis lopez-conesa
  • Autor: enrique calleja UPM
  • Autor: cesar magen
  • Autor: francesca peiro
  • Autor: sonia estrade
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica