|
Descripción
|
|
|---|---|
| Evaluación de artículos en las revistas internacionales Applied Physics Letters (AIP), Semiconductor Science and Technology (IOP), Surface and Coatings Technology (Elsevier) y Thin Solid Films (Elsevier) y para el congreso International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films 2007 (Elsevier). | |
|
Internacional
|
Si |
|
Fecha
|
|
|
Lugar
|
|
|
Tipo
|
Responsabilidades en publicaciones internacionales |