Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
(S)TEM analysis of the strain and morphology of InAs quantum dots using GaAs(Sb)(N) capping layers for solar cell applications
Year:2016
Research Areas
  • Solar cells
Information
Abstract
Relacionado con líneas de investigación del GDS DEL ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php
International
Si
JCR
Si
Title
Microscopy And Microanalysis
ISBN
1431-9276
Impact factor JCR
1,73
Impact info
Volume
22
10.1017/S1431927616000428
Journal number
From page
46
To page
47
Month
SIN MES
Ranking
Participants
  • Autor: D.F. Reyes
  • Autor: Antonio David Utrilla Lomas (UPM)
  • Autor: T. Ben
  • Autor: J.J Saborido
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero (UPM)
  • Autor: G. Bárcena-González
  • Autor: M. P. Guerrero-Lebrero
  • Autor: E Guerrero (UCA)
  • Autor: D. Gonzalez
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Departamento: Ciencia de Materiales
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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