Descripción
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Relacionado con líneas de investigación del GDS DEL ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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Microscopy And Microanalysis |
ISSN
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1431-9276 |
Factor de impacto JCR
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1,73 |
Información de impacto
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Volumen
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22 |
DOI
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10.1017/S1431927616000428 |
Número de revista
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46 |
Hasta la página
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47 |
Mes
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SIN MES |
Ranking
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