Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Characterization of Analog Modules: Reliability Analyses of Radiation, Temperature and Variations Effects
Year:2016
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
2016 CONFERENCE ON DESIGN OF CIRCUITS AND INTEGRATED SYSTEMS (DCIS 2016)
ISBN
Impact factor JCR
0
Impact info
Volume
Journal number
From page
103
To page
107
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: fernando garcia-redondo (UPM)
  • Autor: hernan aparicio (UPM)
  • Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
  • Autor: pablo ituero (UPM)
  • Autor: carlos lopez-barrio (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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