Descripción
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Revisión de artículos en en las siguientes revistas internacionales: * Applied Phisics Letters (AIP) * Micro and nanosystems * Micromachines (MDPI) * Sensor letters (ASP) * Material science in semiconductor processing (Elsevier) | |
Internacional
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Si |
Fecha
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Lugar
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Tipo
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Responsabilidades en la evaluación de proyectos internacionales |