Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Piezoelectric characterization of Sc0.26Al0.74N layers on Si (001) substrates
Año:2018
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MATERIALS RESEARCH EXPRESS
ISSN
2053-1591
Factor de impacto JCR
1,068
Información de impacto
Volumen
5
DOI
10.1088/2053-1591/aab232
Número de revista
3
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Mes
Ranking
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Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: m. sinusia lozano UPM
  • Autor: a. perez-campos UPM
  • Autor: g. f. iriarte UPM
  • Autor: m. reusch
  • Autor: l. kirste
  • Autor: th fuchs
  • Autor: a. zukauskaite
  • Autor: z. chen
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ciencia de Materiales