Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Nitrogen mapping from ADF imaging analysis in quaternary dilute nitride superlattices
Año:2019

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
APPLIED SURFACE SCIENCE
ISSN
0169-4332
Factor de impacto JCR
4,439
Información de impacto
Volumen
475
DOI
10.1016/j.apsusc.2018.12.228
Número de revista
Desde la página
473
Hasta la página
478
Mes
Ranking
0
Participantes
  • Autor: a. gonzalo UPM
  • Autor: a. d. utrilla
  • Autor: n. ruiz-marin
  • Autor: j. m. ulloa UPM
  • Autor: d. f. reyes
  • Autor: v braza
  • Autor: t. ben
  • Autor: s. flores
  • Autor: d. gonzalez

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ciencia de Materiales