Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
J. M. ULLOA, P. M. KOENRAAD, E. GAPIHAN, A. LÉTOUBLON, N. BERTRU "Double capping of MBE grown InAs/InP quantum dots studied by cross-sectional scanning tunneling microscopy" Applied Physics Letters, 91, 073106-073109 (2007) ISSN: 0003-6951
Year:2007
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
Relacionado con la línea de investigación de Crecimiento epitaxial de nitruros del grupo III para aplicaciones en biosensores y detectores de IR
International
Si
JCR
Si
Title
APPL PHYS LETT
ISBN
0003-6951
Impact factor JCR
3,596
Impact info
Volume
91
Journal number
0
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Month
SIN MES
Ranking
Participants
  • Autor: N. BERTRU
  • Autor: E. GAPIHAN,
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: P. M. KOENRAAD
  • Autor: A. LÉTOUBLON
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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