Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
J. M. ULLOA, P. M. KOENRAAD, E. GAPIHAN, A. LÉTOUBLON, N. BERTRU "Double capping of MBE grown InAs/InP quantum dots studied by cross-sectional scanning tunneling microscopy" Applied Physics Letters, 91, 073106-073109 (2007) ISSN: 0003-6951
Año:2007
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Relacionado con la línea de investigación de Crecimiento epitaxial de nitruros del grupo III para aplicaciones en biosensores y detectores de IR
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
APPL PHYS LETT
ISSN
0003-6951
Factor de impacto JCR
3,596
Información de impacto
Volumen
91
DOI
Número de revista
0
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Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: N. BERTRU
  • Autor: E. GAPIHAN,
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: P. M. KOENRAAD
  • Autor: A. LÉTOUBLON
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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