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Descripción
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| TEM Mode-Matching Analysis of Multi-coupled Strip-line Filters | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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IEEE. M.T.T. Symposium |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Honolulu-Hawai (USA) |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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isbn |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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04/07/2007 |
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Fecha fin congreso
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09/07/2007 |
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Título de las actas
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