Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Sistema de Monitorización y Control de Procesos de Tratamiento Térmico Superficial de Materiales con Láser Mediante un Sistema de Control Neuronal Adaptativo Mediante Modelo de Referencia
Año:2008
Áreas de investigación
  • Ingenieria mecanica
Datos
Descripción
Consiste en un sistema de monitorización y control en tiempo real de procesos de tratamiento térmico superficial de materiales con láser mediante control neuronal mediante modelo de referencia, que emplea como variable de entrada la máxima temperatura en la superficie del material y como variable de actuación la potencia de salida de la fuente láser. El sistema calcula cíclicamente la señal de actuación sobre la potencia de la fuente láser (8), en base al error de seguimiento (4). La señal de control sobre la potencia de la fuente láser (8) es calculada en dos etapas: en primer lugar, el controlador lineal tipo Proporcional, Integral y Derivativo, PID (5) genera, en base al error de seguimiento (4), la correspondiente actuación (6), y posteriormente, a partir de dicha señal y el estado del proceso (2), el controlador neuronal mediante modelo de referencia (7) calcula la señal de actuación sobre la fuente láser (8).
Internacional
No
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
P200602421
En explotación
No
Fecha solicitud
25/09/2006
Titulares aparte de la UPM
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Jose Luis Ocaña Moreno (UPM)
  • Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
  • Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial
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