Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
F. González-Posada, A. F. Braña, D. L. Romero, M. F. Romero, E. Muñoz, C. Palacio, A. Jiménez, J. A. Bardwell. "Effects Of Surface Cleaning And Treatments In 2deg Characteristics Of Gan Hemt Structures" 31st Workshop on compound Semiconductor devices and Integrated circuits WOCSDICE-2007Venecia (Italia) 20 al 23 de mayo de 2007
Año:2007
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Relacionado con línea de investigación de Sensores, detectores de UV y Transistores HEMT
Internacional
Si
Nombre congreso
31st Workshop on compound Semiconductor devices and Integrated circuits ¿WOCSDICE-2007¿ Venecia (Italia) 20 al 23 de mayo de 2007
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Venecia (Italia)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
DOI
Fecha inicio congreso
20/05/2007
Fecha fin congreso
23/05/2007
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Título de las actas
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: A. JIMENEZ
  • Autor: C. PALACIO
  • Autor: Fernando González-Posada Flores (UPM)
  • Autor: Alejandro Francisco Braña De Cal (UPM)
  • Autor: Elias Muñoz Merino (UPM)
  • Autor: J.A. BARDWELL
  • Autor: David Lopez-Romero Moraleda (UPM)
  • Autor: Fatima Romero Rojo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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