Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Communications at congresses:
C. RIVERA, F.GONZÁLEZ-POSADA FLORES, E. MUÑOZ. "Strain-induced effects on the degradation of III-Nitride-based HEMTs". 33st Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2009 Málaga (Spain), 2009.
Year:2009
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
Relacionado con Línea de Investigación del Grupo GDS-ISOM, consultar en http://www.isom.upm.es/invdes.php
International
Si
Congress
33st Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2009
960
Place
Málaga (Spain), 2009.
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
0000000000000
Start Date
17/05/2009
End Date
20/05/2009
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0
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"Strain-induced effects on the degradation of III-Nitride-based HEMTs".
Participants
  • Autor: Carlos Rivera De Lucas (UPM)
  • Autor: Fernando González-Posada Flores (UPM)
  • Autor: Elias Muñoz Merino (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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