Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Capacitance measurements for subcell characterization in multijunction solar cells
Año:2010
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
On this paper we present an alternative way to analyze de electronic properties of each subcell from the complete device. By illuminating the cell with light sources which energy is near one of the subcell bandgaps, it is possible to ¿erase¿ the presence of such subcell on the CV curve. The main advantages of this technique are that it is not destructive, it can be measured on the complete cell so can be easily implemented as a diagnostic technique for controlling electronic deviations.
Internacional
Si
Nombre congreso
35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Honolulu (Hawaii)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-4244-5891-2
DOI
Fecha inicio congreso
20/06/2010
Fecha fin congreso
25/06/2010
Desde la página
708
Hasta la página
711
Título de las actas
35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar