Descripción
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Comparación del espectro de ruido en diodos de GaAs y GaN mediante el método de Monte Carlo y modelos analíticos sencillos en condiciones estáticas y variables con el tiempo. | |
Internacional
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Si |
Nombre congreso
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21st International Conference on Noise and Fluctuations |
Tipo de participación
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960 |
Lugar del congreso
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Toronto, ON |
Revisores
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Si |
ISBN o ISSN
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978-1-4577-0189-4 |
DOI
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10.1109/ICNF.2011.5994274 |
Fecha inicio congreso
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12/06/2011 |
Fecha fin congreso
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16/06/2011 |
Desde la página
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106 |
Hasta la página
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109 |
Título de las actas
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Conference Publications |