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Abstract
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| En este artículo, se analiza la influencia de la variación de esquemas generación, en el problema de emplazamiento óptimo de equipos de medición para la monitorización de huecos de tensión. Se presentan distintos casos de estudio en redes de prueba del IEEE. | |
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International
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Si |
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Congress
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Vigésima Reunión de Verano de Potencia, Aplicaciones Industriales y Exposición Industrial RVP-AI/2007, IEEE Sección México |
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960 |
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Place
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Acapulco, Mexico |
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Reviewers
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Si |
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ISBN/ISSN
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Start Date
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08/07/2007 |
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End Date
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14/07/2007 |
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