Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
XPS as characterization tool for PV: from the substrate to complete III-V multijunction solar cells
Año:2011
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
This contribution aims to illustrate the potential of the Xray photoelectron spectroscopy (XPS) technique as a tool to analyze different parts of a solar cell (surface state, heterointerfaces, profile composition of ohmic contacts, etc). Here, the analysis is specifically applied to III-V multijunction solar cells used in concentrator systems. The information provided from such XPS analysis has helped to understand the physico-chemical nature of these surfaces and interfaces, and thus has guided the technological process in order to improve the solar cell performance.
Internacional
Si
Nombre congreso
37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Seattle (USA)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-4244-9965-6
DOI
Fecha inicio congreso
19/06/2011
Fecha fin congreso
24/06/2011
Desde la página
229
Hasta la página
233
Título de las actas
37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: M. Gabás
  • Autor: M.C. López-Escalante
  • Autor: Carlos Algora Del Valle (UPM)
  • Autor: Ignacio Rey-Stolle Prado (UPM)
  • Autor: Enrique Barrigon Montañes (UPM)
  • Autor: Ivan Garcia Vara (UPM)
  • Autor: Beatriz Galiana Blanco (UPM)
  • Autor: S. Palanco
  • Autor: S. Bijani
  • Autor: J.R. Ramos-Barrado
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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