Ponencias en congresos:
Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy investigations of InAlN/GaN Bragg reflectors grown by plasma-assisted Molecular Beam Epitaxy
Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy investigations of InAlN/GaN Bragg reflectors grown by plasma-assisted Molecular Beam Epitaxy
Año:2011
Áreas de investigación
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Ingenierías
Datos
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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM ver http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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8ª Conferencia de Dispositivos Electrónicos (CDE) |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Palma de Mallorca (Spain) 2011 |
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Revisores
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No |
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ISBN o ISSN
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0000000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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08/02/2011 |
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Fecha fin congreso
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11/02/2011 |
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Desde la página
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Título de las actas
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Proceedings |
Participantes
- Autor: Zarko Gacevic (UPM)
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
- Autor: D. Hosseini
- Autor: S. Estrada
- Autor: S Fernández-Garrido
- Autor: F. Peiró
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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