Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
UV laser-induced high resolution cleaving of Si wafers for micro-nano devices and polymeric waveguide characterization
Año:2011
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
APPLIED SURFACE SCIENCE
ISSN
0169-4332
Factor de impacto JCR
1,793
Información de impacto
Volumen
257
DOI
10.1016/j.apsusc.2010.11.021
Número de revista
12
Desde la página
5424
Hasta la página
5428
Mes
Ranking
40/116 PHYSICS, APPLIED (SCI); 26/67 PHYSICS, CONDENSED MATTER (SCI); 7/18 MATERIALS SCIENCE, COATINGS AND FILMS (SCI); 75/125 CHEMISTRY, PHYSICAL (SCI)
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: r. casquel (UPM)
  • Autor: m. holgado (UPM)
  • Autor: j. j. garcia-ballesteros (UPM)
  • Autor: k. zinoviev
  • Autor: c. fernandez-sanchez
  • Autor: f. j. sanza (UPM)
  • Autor: c. molpeceres (UPM)
  • Autor: m. f. laguna (UPM)
  • Autor: a. llobera
  • Autor: j. l. ocana (UPM)
  • Autor: c. dominguez
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
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