Memorias de investigación
Artículos en revistas:
UV laser-induced high resolution cleaving of Si wafers for micro-nano devices and polymeric waveguide characterization
Año:2011

Áreas de investigación

Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
APPLIED SURFACE SCIENCE
ISSN
0169-4332
Factor de impacto JCR
1,793
Información de impacto
Volumen
257
DOI
10.1016/j.apsusc.2010.11.021
Número de revista
12
Desde la página
5424
Hasta la página
5428
Mes
Ranking
40/116 PHYSICS, APPLIED (SCI); 26/67 PHYSICS, CONDENSED MATTER (SCI); 7/18 MATERIALS SCIENCE, COATINGS AND FILMS (SCI); 75/125 CHEMISTRY, PHYSICAL (SCI)

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser