Artículos en revistas:
Low-thickness high-quality aluminum nitride films for super high frequency solidly mounted resonators
Año:2012
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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THIN SOLID FILMS |
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ISSN
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0040-6090 |
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Factor de impacto JCR
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1,909 |
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Información de impacto
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Volumen
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520 |
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DOI
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10.1016/j.tsf.2011.11.007 |
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Número de revista
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7 |
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Desde la página
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3060 |
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Hasta la página
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3063 |
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Mes
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Ranking
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3/18 MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS (SCI); 21/67 PHYSICS, CONDENSED MATTER (SCI); 36/116 PHYSICS, APPLIED (SCI); 61/219 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY (SCI) |
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Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
- Autor: e. iborra UPM
- Autor: m. clement UPM
- Autor: j. capilla UPM
- Autor: j. olivares UPM
- Autor: v. felmetsger
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
- Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
- Departamento: Tecnología Electrónica