Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Low-thickness high-quality aluminum nitride films for super high frequency solidly mounted resonators
Año:2012
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
THIN SOLID FILMS
ISSN
0040-6090
Factor de impacto JCR
1,909
Información de impacto
Volumen
520
DOI
10.1016/j.tsf.2011.11.007
Número de revista
7
Desde la página
3060
Hasta la página
3063
Mes
Ranking
3/18 MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS (SCI); 21/67 PHYSICS, CONDENSED MATTER (SCI); 36/116 PHYSICS, APPLIED (SCI); 61/219 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY (SCI)
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: e. iborra (UPM)
  • Autor: m. clement (UPM)
  • Autor: j. capilla (UPM)
  • Autor: j. olivares (UPM)
  • Autor: v. felmetsger
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Tecnología Electrónica
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