Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Nanocrack-induced leakage current in AlInN/AlN/GaN
Año:2012
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
SCRIPTA MATERIALIA
ISSN
1359-6462
Factor de impacto JCR
2,806
Información de impacto
Volumen
66
DOI
10.1016/j.scriptamat.2011.11.024
Número de revista
6
Desde la página
327
Hasta la página
330
Mes
Ranking
3/73 METALLURGY & METALLURGICAL ENGINEERING (SCI); 37/219 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY (SCI); 24/62 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY (SCI)
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: albert minj
  • Autor: daniela cavalcoli
  • Autor: saurabh pandey
  • Autor: beatrice fraboni
  • Autor: anna cavallini
  • Autor: tommaso brazzini (UPM)
  • Autor: fernando calle (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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