Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Understanding CIGS device performances through photoreflectance spectroscopy
Año:2012
Áreas de investigación
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática,
  • Dispositivos electrónicos,
  • Tecnología de dispositivos para ingeniería eléctrica y electrónica
Datos
Descripción
Cu(In1-x,Gax)S2 ; was studied using photoreflectance spectroscopy. In this study, efforts are devoted to optimizing PR set-up for measuring CIGS grown by electrodeposition: issues such as photoluminescence perturbation, high roughness and scattering are addressed. Dual frequency photoreflectance, where both probe and pump beams are modulated, is proposed here to over come the poor signal to noise ratio. Considering the low electric field regime, material parameters are extracted by employing the third derivative functional form of dielectric functions to fit data. The reliability of the technique is finally tested by measuring PR spectra on a specific 15 x 15cm2 wafer and explanations of PR line-shape evolution on this wafer are discussed.
Internacional
Si
Nombre congreso
SPIE Thin Film Solar Technology IV
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
San Diego (CA), EEUU
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0277-786X
DOI
10.1117/12.929784
Fecha inicio congreso
13/08/2012
Fecha fin congreso
14/08/2012
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847021
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Título de las actas
Proc. SPIE 8470, Thin Film Solar Technology IV
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: David Fuertes Marron (UPM)
  • Autor: A. Moreau
  • Autor: Irene Artacho Huertas (UPM)
  • Autor: L. Escoubas
  • Autor: J.J. Simon
  • Autor: C. Ruiz
  • Autor: V. Bermudez
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Silicio y Nuevos Conceptos para Células Solares
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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