Ponencias en congresos:
EELS-HAADF combination for characterization of a new AlN/GaN DBRs growth method
EELS-HAADF combination for characterization of a new AlN/GaN DBRs growth method
Año:2012
Áreas de investigación
-
Ingenierías, -
Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
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Descripción
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/investigacion.php | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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European Microscopy Congress 2012 (EMC 2012) |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Manchester, UK |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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16/09/2012 |
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Fecha fin congreso
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21/09/2012 |
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Hasta la página
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3 |
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Título de las actas
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Proceedings |
Participantes
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
- Autor: Zarko Gacevic (UPM)
- Autor: A Eljarrat
- Autor: L López-Conesa
- Autor: S Fernández-Garrido
- Autor: et al
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- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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