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Descripción
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| Electrical and surface characterization of wet-etched InAlN/AlN/GaN HEMTs | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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Electronic Materials Conference (EMC2012) |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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University Park, Pennsylvania (USA) |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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000-0-0000-0000-0 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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20/06/2012 |
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Fecha fin congreso
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22/06/2012 |
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Título de las actas
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Actas del EMC2012 |