Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Sophisticated Security Verification on Routing Repaired Balanced Cell-Based Dual-Rail Logic against Side Channel Analysis
Año:2013
Áreas de investigación
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
Descripción
A joint journal paper with research group in ParisTech.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Iet Information Security
ISSN
1751-8709
Factor de impacto JCR
Información de impacto
Volumen
DOI
10.1049/iet-ifs.2013.0058
Número de revista
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Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Wei He . (UPM)
  • Autor: Shivam Bhasin (Telecom-ParisTech)
  • Autor: Eduardo de la Torre Arnanz (UPM)
  • Autor: Danger Jean-Luc (Telecom-ParisTech)
  • Autor: Tarik Graba (Telecom-ParisTech)
  • Autor: Jose Andres Otero Marnotes (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Automática, Ingeniería Electrónica e Informática Industrial
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