Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Systematic optical characterization of two-dimensional electron gases in InAlN/GaN-based heterostructures with different in content
Año:2013

Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones

Datos
Descripción
Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Japanese Journal of Applied Physics
ISSN
0021-4922
Factor de impacto JCR
1,067
Información de impacto
Volumen
DOI
http://dx.doi.org/10.7567/JJAP.52.08JK02.
Número de revista
52
Desde la página
08JK02
Hasta la página
08JK02
Mes
SIN MES
Ranking

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes
  • Autor: Fatima Romero Rojo UPM
  • Autor: F. Feneberg
  • Autor: P. Moser
  • Autor: C. Berger
  • Autor: J. Blasing
  • Autor: A. Dadgar
  • Autor: A. Krost
  • Autor: E. Sakalauskas
  • Autor: Fernando Calle Gomez UPM
  • Autor: R. Goldhahn

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica