Artículos en revistas:
Systematic optical characterization of two-dimensional electron gases in InAlN/GaN-based heterostructures with different in content
Systematic optical characterization of two-dimensional electron gases in InAlN/GaN-based heterostructures with different in content
Año:2013
Áreas de investigación
-
Ingenierías, -
Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
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Descripción
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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Japanese Journal of Applied Physics |
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ISSN
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0021-4922 |
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Factor de impacto JCR
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1,067 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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http://dx.doi.org/10.7567/JJAP.52.08JK02. |
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Número de revista
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52 |
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Desde la página
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08JK02 |
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Hasta la página
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08JK02 |
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Mes
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SIN MES |
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Ranking
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Participantes
- Autor: Fatima Romero Rojo (UPM)
- Autor: F. Feneberg
- Autor: P. Moser
- Autor: C. Berger
- Autor: J. Blasing
- Autor: A. Dadgar
- Autor: A. Krost
- Autor: E. Sakalauskas
- Autor: Fernando Calle Gomez (UPM)
- Autor: R. Goldhahn
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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